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絕緣阻抗(IR)測(cè)試是一種定性測(cè)試,提供絕緣系統(tǒng)的相對(duì)質(zhì)量的一個(gè)表示。測(cè)試時(shí)通常用500V或1000V的DC電壓進(jìn)行,結(jié)果用兆歐電阻(MΩ)來(lái)度量。耐壓測(cè)試(Hi-Pot)測(cè)試則是一種定量測(cè)試,同樣也給DUT施加高壓,但所加電壓比絕緣阻抗(...
LCR測(cè)試儀的*測(cè)試條件我們建議的測(cè)試條件如下:元器件元器件值測(cè)試電路頻率電感10mH串聯(lián)100kHz10mH~1mH串聯(lián)10kHz1mH~1H串聯(lián)1kHz1H串聯(lián)0.1kHz電容10pF串聯(lián)100kHz10~400pF串聯(lián)/并聯(lián)10kHz...
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